射频易商城_芯片电容_矩阵电容板及芯片测试方法③

   日期:2024-08-16     浏览:2    评论:0    
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矩阵电容板及芯片测试方法

位于所述电容矩阵的对角线上以及所述对角线一侧的各所述电容均具有容值,位于所述对角线另一侧的各所述电容均具有第二容值。3. 如权利要求2所述的矩阵电容板,其特征在于,所述信号线的数量等于所述第二信号线的数量。4.如权利要求1所述的矩阵电容板,其特征在于,不同容值的所述电容满足如下条件:任意两种容值的容值差大于或者等于较大容值的三分之一。5. 如权利要求1所述的矩阵电容板, 其特征在于, 所述电容矩阵中包括两种容值的电容,且所述两种容值分别为1 .5皮法和1 .0皮法。6.一种芯片测试方法,其特征在于,包括:提供如权利要求1至5中任一项所述的矩阵电容板,并将所述矩阵电容板连接至待测的芯片;将所述信号线、所述第二信号线的其中一种信号线作为发射通道,且将另一种信号线作为接收通道;向各所述发射通道依次施加扫描电压,并从各所述接收通道接收输出电压;根据各所述接收通道接收的输出电压,分析所述芯片的性能状况;每个所述发射通道对应于一组输出电压且这组输出电压为在所述发射通道被施加所述扫描电压时,从各所述接收通道接收的输出电压;将所述发射通道作为当前测试通道;所述根据各所述接收通道接收的输出电压,分析所述芯片的性能状况,包括:对于每个所述当前测试通道,将所述当前测试通道对应的一组输出电压中各所述输出电压的电压值,作为所述当前测试通道对应的电压分布图案;



 
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